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材料表征设备

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扫描开尔文探针

< class="product_con"> 扫描开尔文探针
扫描开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势,表面功函。由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定,因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统。

主要特点:
● 功函分辨率< 3meV
● 扫描面积:5mm to 300mm(四种型号,每种型号扫描面积不同)
● 扫描分辨率:317.5nm
● 自动高度调节
应用领域:
● 有机和非有机半导体
● 金属
● 薄膜
● 太阳能电池和有机光伏材料
● 腐蚀
升级附件:
● 大气光子发射系统
● 表面光电压(QTH or LED)
● SPS表面光电压光谱(400-1000nm)
● 金或不锈钢探针,直径0.05mm to 20mm
● 相对湿度控制和氮气环境箱
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